👈 فروشگاه فایل 👉

مقاله ترجمه شده تخصصی برق از سایت IEEE

ارتباط با ما

... دانلود ...

مقاله ترجمه شده تخصصی برق از سایت IEEE

این مقاله یکی از موضوعات جدید و بروز در ضمینه فین فت 10 نانومتر می باشد و مناسب همه دوره ها:کارشناسی،ارشد،دکتری برق می باشد.ترجمه بصورت کاملا روان بوده و اصلا ترجمه ماشینی در آن استفاده نشده.تمامی شکل ها و جداول بصورت مرتب و طبق ترتیب مقاله اصلی بوده و می تواند موضوع مقالات دروس مختلف دانشگاهی باشد.این مقاله از سایت معروف و شناخته شده IEEE می باشد.که معمولا تمامی اساتید با این سایت آشنا هستند.

تعداد صفحات مقاله اصلی هر صفحه دو ستون و با فونت ریز:4 صفحه

تعداد صفحات ترجمه:12 صفحه

فایل ها در قالب فرمت pdf می باشند.

عنوان لاتین مقاله:Study of Impact of BTI’s Local Layout Effect Including Recovery Effect on Various Standard-Cells in 10nm FinFET

عنوان فارسی مقاله:بررسی تاثیر طرح چیدمان محلی BTI شامل تاثیر بهبودی بر روی سلول های استاندارد مختلف در فین فت 10 نانومتر

👇محصولات تصادفی👇

نسخه ي فارسي پرسشنامه ي نظم‌جويي شناختي هيجان (CERQ- نسخه 18 آیتمی) پاورپوینت بتن سبک AAC پاورپوینت مداخله گرها مبانی نظری روابط حقوق سازمان همكاري اقتصادي (اكو) و به صورت اختصاصي ايران با اتحاديه اروپا مبانی نظری و پیشینه تحقیق استرس